Các hình thức hư hỏng của chân đầu nối và jack cắm là gì?

Một phản ứng hóa học hoặc điện hóa bùng phát giữa kim loại và các điều kiện xung quanh nó gây ra một số thay đổi có thể phát hiện được trong kim loại, dẫn đến sự suy giảm tính năng và chức năng của vật liệu kim loại. Quá trình này được gọi là thối rữa. Từ phần cuối của bề ngoài kim loại lộ ra, dần dần sửa đổi hình học của tư liệu bị hủ hóa, mà không chạm đến cấu tạo hóa học và kết cấu không đẹp mắt của nó. Chuyển biến tốt đẹp từ cuối tầng hủ hóa, thỉnh thoảng tiếp tục đến, chỉ cần một loại chất phản ứng là có thể đi qua tầng hủ hóa phân tán và duy trì hủ hóa tiếp tục phản ứng đình chỉ. Hủ hóa có ảnh hưởng tiềm ẩn đối với các bộ phận kim loại của đầu nối, lỗ cắm, bất kể là vỏ ngoài hay là thân tiếp xúc. Các yếu tố như tham nhũng khí quyển, tham nhũng cục bộ, tham nhũng khe nứt, ăn mòn điểm và ăn mòn điện là tương đối hiếm trong các phương pháp tham nhũng lớn.

Một. Hình thức hủ hóa của lỗ cắm kim đầu nối là gì? 1. Hủ hóa khí quyển: Vật liệu kim loại tiếp xúc với oxy, carbon dioxide, hơi nước, lưu huỳnh và chloride tồn tại trong khí quyển mà dần dần bộc phát hư hóa hoặc biến đổi, làm cho vật liệu cấu thành thỉnh thoảng trở nên mỏng đi, có thể nói là phương pháp liên hợp hủ hóa thông thường. Hủ hóa đều có đặc điểm điện phân, giảm tốc độ xuống cấp chỉ cần một lớp màng nước mỏng, tốc độ hủ hóa khí quyển có liên quan đến nhiệt độ, nhiệt độ, nồng độ sunfat và chloride và các chất ô nhiễm khí quyển khác. 2. Hủ hóa cục bộ: Khu vực hủ hóa tương đối nhỏ hơn, nhưng cơ chế thứ nhất tương tự như hủ hóa bình thường, thường ngày bùng nổ trên một số vết nứt thô to bên ngoài sản phẩm, không dễ dàng biểu hiện ra ảnh hưởng hủ hóa rõ rệt. 3. Hủ hóa khe nứt: Hủ hóa do bề ngoài kim loại bị hủ hóa cục bộ cấu thành, chủ yếu là hủ hóa bùng nổ trong khu vực cần bảo vệ giữa các cấu kiện khác nhau mà không bị biểu hiện đầy đủ. Sự giải phóng hẹp giữa các thành phần kim loại hoặc giữa các thành phần kim loại và phi kim loại, vết nứt hoặc các khuyết điểm bề ngoài khác đều có thể trở thành nguồn gốc của sự phân hủy vết nứt. 4. Ăn mòn điểm: Một phương pháp suy giảm cục bộ bùng nổ ở một lỗ được tạo thành từ một điểm hoặc một khu vực rất nhỏ bên ngoài kim loại. Sự ăn mòn thường có ảnh hưởng đến kim loại có lớp mạ rất mỏng, bùng nổ ở chỗ mỏng của lớp mạ, làm cho công dụng cơ học của lớp mạ bùng nổ trong điều kiện tất yếu và không thể tự sửa chữa. 5. Vi lỗ hủ hóa: phương pháp hủ hóa bùng nổ trong lớp mạ mỏng và nhiều lỗ, khi màng nước chứa khí điện ly tồn tại thì phát sinh hiệu ứng nguyên tế bào, do đó bùng nổ. Các sản phẩm phân hủy đi qua các lỗ nhỏ trên lớp phủ từ lớp dưới hoạt động hoặc kim loại nền đến bề mặt tiếp xúc, và sự phân hủy vi lỗ thường liên quan đến sự tương tác giữa chloride và oxy và sunfat. Độ dày và độ dày của lớp phủ giắc cắm đầu nối là yếu tố chính ảnh hưởng đến tốc độ phân hủy vi lỗ. 6. Hủ hóa điện hóa: Một phương pháp hủ hóa chậm xảy ra khi kim loại hoặc hợp kim tiếp xúc với kim loại có tính trơ hóa học lớn hơn nó trong chất điện phân thống nhất. Trong kết cấu tiếp xúc song kim loại, sự thối rữa của phương pháp này là một trong những ảnh hưởng xấu nghiêm trọng nhất, bất cứ lúc nào, chỉ cần các kim loại khác nhau cùng tồn tại trong dung dịch chứa ion muối sẽ bùng nổ sự thối rữa điện hóa.

2. Giới thiệu vắn tắt về nền tảng mạng lưới sản phẩm điện tử quốc tế và giới thiệu vắn tắt về sản phẩm tiêu thụ: mạng lưới sản phẩm điện tử quốc tế - đại lý chuyên nghiệp/sản xuất/tiêu thụ các loại { đầu nối | dây cáp | sản phẩm dây cáp }; Nếu bạn có nhu cầu mua sắm/mua sắm liên quan đến [ đầu nối | dây cáp | sản phẩm cáp ] hoặc muốn mua/tìm hiểu những giải pháp sản phẩm đầu nối | dây cáp mà chúng tôi có thể cung cấp, xin vui lòng liên hệ với nhân viên nghiệp vụ của công ty chúng tôi bên dưới; nếu bạn có nhu cầu tiêu thụ/tài nguyên và quảng bá liên quan đến [ đầu nối | sản phẩm dây cáp ], xin vui lòng click vào"→ Hợp tác thương mại ←"để tiến hành đàm phán với chuyên gia!